X射線分辨率模體
低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量，可以用于射線放射影像系統(tǒng)和CR系統(tǒng);這些測試對象旨在快速定量評估圖像質量。
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X射線分辨率模體
低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量，可以用于射線放射影像系統(tǒng)和CR系統(tǒng);這些測試對象旨在快速定量評估圖像質量。檢測模體定制生產(chǎn)廠家：廊坊玉雙儀器設備有限公司，定制生產(chǎn)編號：20230107-05。CRDR性能檢測模體用途：用于檢測DSA系統(tǒng)的動態(tài)范圍，空間分辨力、低對比度線性、減影性能、血管細節(jié)成像性能、幾何畸變等性能指標。主要用于測試射線機的高分辨率。模體內邊界及中心有13個影像均勻性測試點；同時具有6個靈敏度線性測試點；空間分辨力測試點，呈45度交排列，能耐更好的評估CR、DR分辨率指標。主要反映的是影像信息的再現(xiàn)率。在 射線系統(tǒng)的分辨率測試。選擇檢測器、樣品和試管之間的距離，以便獲得盡可能高的放大倍數(shù)。DR指在計算機控制下直接進行數(shù)字化X線攝影的一種新技術，即采非晶硅平板探測器把穿透人體的X線信息轉化為數(shù)字信號，并由計算機重建圖像及進行一系列的圖像后處理。公司經(jīng)營有空間分辨率測試卡，CRDR模體，CT模體，亞克力實驗箱，水模體、分辨率測試卡等相關產(chǎn)品，更多產(chǎn)品的詳細信息請咨詢廊坊玉雙儀器設備有限公司，將會給您更加 的解答，期待您的到來。
X射線分辨率模體
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