X光對比測試卡
產品銷售編號：20220801-05
產品銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
分辨率測試卡詳細介紹：JIMA RT RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦 X 射線系統的光刻生產的測試模式。它支持 0.1 μm 和 10 μm 之間的分辨率，對應于 0.2 μm 和 20 μm 之間的焦斑尺寸。不同距離的線束應用于硅載體JIMA RT RC-04分辨率測試卡特點：測試卡封裝在一個防護盒中盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm圖案布局：T型線/。空間分辨率是指對物體結構大小(幾何尺寸)的鑒別能力,通常用每厘米內的線對數(LP /厘米)或用可辨別小物體的直徑(毫米)來表示,它與構成圖像的像數有關,像數小而多,則空間分辨率就大,圖像細致清楚。構成CT圖像的像數不可能像X線照片的銀粒那么細小而多,所以CT空間分辨率較普通的X線照片要小。是否可以簡單的理解為空間分辨率就是多的像素 時間分辨率就是照相機連拍的時候的時間間隔
選擇檢測器、樣品和試管之間的距離，以便獲得盡可能的放大倍數。現在選擇所需的 X 射線參數。將測試圖案放置在試管前面，以便一束線條中的每條線條清晰可見。使用機械手進行溶出度測試，使下一個小的線束變得可見。只要線條清晰，就繼續。以下近似適用：焦點尺寸等于分辨率乘以 2。
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選擇檢測器、樣品和試管之間的距離，以便獲得盡可能的放大倍數。現在選擇所需的 X 射線參數。將測試圖案放置在試管前面，以便一束線條中的每條線條清晰可見。使用機械手進行溶出度測試，使下一個小的線束變得可見。只要線條清晰，就繼續。以下近似適用：焦點尺寸等于分辨率乘以 2。
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分辨率測試卡詳細介紹：JIMA RT RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦 X 射線系統的光刻生產的測試模式。它支持 0.1 μm 和 10 μm 之間的分辨率，對應于 0.2 μm 和 20 μm 之間的焦斑尺寸。不同距離的線束應用于硅載體JIMA RT RC-04分辨率測試卡特點：測試卡封裝在一個防護盒中盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm圖案布局：T型線/。空間分辨率是指對物體結構大小(幾何尺寸)的鑒別能力,通常用每厘米內的線對數(LP /厘米)或用可辨別小物體的直徑(毫米)來表示,它與構成圖像的像數有關,像數小而多,則空間分辨率就大,圖像細致清楚。構成CT圖像的像數不可能像X線照片的銀粒那么細小而多,所以CT空間分辨率較普通的X線照片要小。是否可以簡單的理解為空間分辨率就是多的像素 時間分辨率就是照相機連拍的時候的時間間隔
選擇檢測器、樣品和試管之間的距離，以便獲得盡可能的放大倍數。現在選擇所需的 X 射線參數。將測試圖案放置在試管前面，以便一束線條中的每條線條清晰可見。使用機械手進行溶出度測試，使下一個小的線束變得可見。只要線條清晰，就繼續。以下近似適用：焦點尺寸等于分辨率乘以 2。
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