Ｘ光分辨率解析卡
產品編號：20211126-08
銷售產家：固安縣雙玉儀器有限公司
分辨率測試卡，JIMA（日本檢測儀器制造商協會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
線對卡是對X射線的成像進行分辨力進行測試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對對X射線的成像的圖像進行檢測，把線對卡至于X射線影像設備之下進行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出多少個線對的數量作為衡量射線設備的分辨力能力時候滿足日常檢測的分辨率的需要。
射線吸收材料
射線吸收材料多為重金屬,可以用鉛箔或鎢箔,標準引進了鉛當量的概念,所以就不再提到鎢箔,表述為“射線吸收材料用鉛箔或與鉛當量相當的金屬箔。”
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測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
圖案布局：L型
線/空間尺寸： 16種規格圖案
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
本公司經營線對卡業務和其他相關產品的業務，更多產品的詳細信息請咨詢固安縣雙玉儀器有限公司，將會給您更加滿意的解答，期待您的到來。
產品編號：20211126-08
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