X光成像分辨率測試卡
產品編號：20211119-02
經銷商：固安縣雙玉儀器有限公司
X線的特性： X線是一種波長很短的電磁波。波長范圍為0.0006～50nm。目前X線診斷常用的X線波長范圍為0.008～0.031nm(相當于40～150kV時)。在電磁輻射譜中，居γ射線與紫外線之間，比可見光的波長要短得多，肉眼看不見。
對于圖像傳輸系統，由于特定的成像誤差，在切向和經向方向(例如，在L.系統中)，更好使用直線組的測試，這些直線組彼此靠近，并且彼此垂直。
為了避免由于所謂的偽銳度造成的錯誤讀數，必須注意圖像中可識別的測試組條數與測試的條數一致。be som 測試具有連續變化的空間頻率，是群測試的一種特殊形式。它的優點在于避免了由于偽銳度造成的閱讀錯誤。
線和間距/線寬：3至50 um，16英寸
16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局
上圖為大小為5μm L&S的圖像。
Au狹縫數為3行2空間。
寬度從下午3點到10點μm：t形布局
寬度15到50μm：I形狀布局LS寬度：
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
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產品編號：20211119-02
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